数字IC测试仪
GUT-6000B数字IC测试仪主要特点：
GUT-6000B一款台式数字IC测试仪。为了自动完成测试任务，GUT-6000B包含自动搜索和循环测试等功能，以及自能化连续侦测坏损IC功能。自我诊断和过载保护功能使它更接近零维护，减少了用户不必要的麻烦。
可测试1800多种常见的TTL和CMOS器件，真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。
循环测试，自动搜寻，自我诊断。过载保护，测量1800种设备
支持54/74系列TTL，支持4000和4500系列CMOS
测试管脚：28-pin
GUT-6000B产品规格：
产品规格：
测试范围 | |
| 54/74 系列 TTL |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
DRIVE | |
量测种类 | |
| 约 1800 种 |
测试电压 | |
| 2.5/3.0/3.3/5V DC |
测试时间 | |
| 高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC |
使用电源 | |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
尺寸及重量 | |
| 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm |
GUT-6000B订购信息：
使用手册x1， 电源线x1
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