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LCR测试仪

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生产线的产品

C测试仪 3506-10

对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

 

  • 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
  • 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
  • 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
  • 根据BIN的测定区分容量

 

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。

 

 

基本参数

 

测量参数

C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)

测量范围

C:0.001fF~15.0000μF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9

基本精度

(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013

测量频率

1kHz, 1MHz

测量信号电平

500mV, 1V rms

输出电阻

1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)

显示

LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)

测量时间

1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz

机能

BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, zui大40VA

体积及重量

260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg

附件

电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 

 

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