产品展示

• 
  阻抗分析仪IM3570

  阻抗分析仪IM3570 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 LCR模式下Z快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量 基本精度±0.08%的高精度测量 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

  查看详情
• 
  日置LCR测试仪IM3536

  日置LCR测试仪 测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：Z快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量 可内部发生DC偏压测量 从研发到生产线活跃在各种领域中

  查看详情
• 
  日置LCR测试仪IM3533

  日置LCR测试仪?基本精度±0.05％，测量范围广泛（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。?在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度比以往产品快10倍。?内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。（测量速度是以往产品3522-50的10倍，大大提高了反复性和稳定性）

  查看详情
• 
  日置LCR测试仪IM3533-01

  日置LCR测试仪 基本精度±0.05％，测量范围广泛（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度比以往产品快10倍。 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。 （测量速度是以往产品3522-50的10倍，大大提高了反复性和稳定性）

  查看详情
• 
  LCR测试仪IM3523

  LCR测试仪 基本精度±0.05％，测量范围广泛（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。 内置比较器和BIN功能 2毫秒的快速测试时间

  查看详情
• 
  LCR测试仪3511-50

  LCR测试仪 高速测量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） 高精度： ± 0.08% 内置比较器

  查看详情
• 
  LCR测试仪3506-10

  LCR测试仪 模拟测量时间0.6ms（1MHz）的高速测量 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量 根据BIN的测定区分容量

  查看详情